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可靠性测试通常需要多块芯片在供电状态下长时间运行，以HTOL为例，样品数至少为231块，测试时长高达1000小时。N23010电压精度0.6mV，长时间稳定性80ppm/1000h，电压纹波噪声≤2mVrms，可有效保证用户测试过程可靠性。

芯片研发、流片、大规模生产过程中，通常需要对多组样品进行可靠性测试，此外，芯片或拼版的漏电流也是其重要测试指标，传统方案通常采用多台线性电源配合数采实现，接线麻烦，且占用测试空间。N23010在19英寸3U机箱内集成了高达24个电源通道，支持μA级电流测量，为芯片大规模测试提供了超高集成度的解决方案。

N23010具有快速的动态响应能力，在满电压输出下，负载由10%突变到90%，电压恢复到原电压减50mV以内的时间＜200μs，保证电压或者电流上升波形高速且无过冲，为待测芯片提供稳定的供电。

N23010支持序列编辑功能，用户可设置输出电压、输出电流以及单步运行时间，可在本地自定义编辑100组电压电流序列。

通讯接口丰富，满足自动化测试

支持RS232、LAN、CAN端口，方便用户组建自动测试系统。